量测设备

Bruker椭偏仪FilmTek 2000 PAR-SE

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FilmTek™ 2000M TSV计量系统为先进的半导体封装应用提供了速度和精度组合。该系统为各种封装工艺和相关结构的高通量测量提供了测量性能和精度，包括表征抗蚀剂厚度、硅通孔（TSV）、铜柱、凸块和再分布层（RDL）。

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布鲁克Bruker隧穿磁比率测量仪有平面内磁铁的低成本台式 CIPT 系统，适用于研究和开发

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布鲁克Bruker JV-QCTT/JV-QCRT X 射线衍射仪使用最新的x射线衍射成像(XRDI)技术，具有最全面的晶体缺陷检查解决方案。是专门为化合物半导体生产和研究实验室提供的X射线设备。

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布鲁克NPFLEX 三维表面测量系统--针对大样品设计的非接触测试分析系统.

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专门为化合物半导体生产和研究实验室提供的X射线设备。

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支持全面扩展的模块化系统,可满足您在环境和非环境条件下对粉末样品、块状样品和薄膜样品的分析需求

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是极佳的多功能X射线衍射仪平台,可为您提供业内领先的技术组件，旨在帮助您对从粉末、多晶材料到外延多层薄膜的各种材料进行结构表征.

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性价比最高的闭环Dimension系列原子力显微镜

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Dimension ICON 具有智能成像模式（ScanAsyst）的原子力显微镜，是全球性能最优的大样品台AFM。

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