Bruker Dimension® Icon™ 原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了全新的 AFM 应用体验，其测试功能强大，操作简便易行。仍然以世界上应用最广泛的 AFM 大样品平台为基础，齐集 Dimension 系统数十年的技术经验。广大客户反馈，结合工业领域的设备需求，进行全面革新。全新的系统设计，实现了前所未有的低漂移和低噪音水平，现在用户只需要几分钟就可获得真实准确的扫描图像。 Dimension Icon 还配备了 Bruker 专利技术 ScanAsyst™ （自动成像参数优化技术），用户可以更简易、更快捷地获得重复性更好的数据，并且降低了对客户操作经验和操作水平的要求。作为目前配置最高的 AFM，保证客户高效完成所需的检测任务。

产品优势

• 终极性能
  独特的传感器设计，在闭环条件下，也能实现大样品台、针尖扫描的 AFM 具有与开环噪音水平一样的低噪音水平，且具有极高的扫描分辨率。
  极大地降低噪声水平，接触模式下可获得原子级图像，在轻敲模式下低于 30pm。
  热漂移速率低于 200pm/分钟，真正获得无曲图像。
• 无以伦比的效率
  XYZ 闭环扫描器的新设计，使仪器在较高扫描速度工作时，也不降低图像质量，具有更大的数据采集效率。
  将十年的研发经验融入到参数预设置中，在新的NanoScope® 软件带有默认的实验模式。
  高分辨率相机和 X-Y 定位可快速、高效地找到样品测量位置。
• 优秀的多功能性
  针尖和样品之间的开放式空间，不仅可以进行各种标准实验，也可以自行设计实验方案，满足不同研究工作的需求。
  硬件和软件技术方面的不断创新，新开发 HarmoniX 模式，可以测量纳米尺度上材料性质。
  用户实用程序脚本提供半自动测量和数据分析。

产品应用

• 材料成像:
  Icon 支持 Bruker 专利技术 PeakForce QNM™成像模式，研究者在获得高分辨率形貌图像的同时，还可以对样品进行纳米定量力学性能测试，同时获得高分辨成像。此技术适用范围很广 (模量从 1MPa 到50GPa，粘附力从 10pN 到 10μN)，可以对不同类型的样品进行表征。
• 电学表征：
  专利模式，可以以更高的灵敏度和更大的动态范围上实现电学表征。把这些研究与其他技术结合起来，比如 Dark Lift，可在扫描电容显微镜，扫描扩散电阻显微镜，扭转共振隧道电流薄膜应力测试仪中获得真正的无假象数据。
• 纳米操纵：
  可实现在纳米和分子级别的纳米操纵和刻蚀。Icon 的 XYZ 闭环扫描器可实现无压电蠕变效应和超低噪音的精密探针定位，适用于任何纳米操纵系统。
• 加热和冷却：
  使用 AFM 不同模式扫描的同时，可实现–35°C 到 250°C 的温度控制和热分析。使用热探针可以在小于 100nm的样品局部加热，达到 400°C 。

技术参数