Bruker布鲁克原子力显微镜Dimension ICON
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- 名称: Bruker布鲁克原子力显微镜Dimension ICON
- 型号: Dimension ICON
- 品牌: BRUKER
产品详情
Bruker Dimension® Icon™ 原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了全新的 AFM 应用体验,其测试功能强大,操作简便易行。仍然以世界上应用最广泛的 AFM 大样品平台为基础,齐集 Dimension 系统数十年的技术经验。广大客户反馈,结合工业领域的设备需求,进行全面革新。全新的系统设计,实现了前所未有的低漂移和低噪音水平,现在用户只需要几分钟就可获得真实准确的扫描图像。 Dimension Icon 还配备了 Bruker 专利技术 ScanAsyst™ (自动成像参数优化技术),用户可以更简易、更快捷地获得重复性更好的数据,并且降低了对客户操作经验和操作水平的要求。作为目前配置最高的 AFM,保证客户高效完成所需的检测任务。
产品优势
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终极性能
独特的传感器设计,在闭环条件下,也能实现大样品台、针尖扫描的 AFM 具有与开环噪音水平一样的低噪音水平,且具有极高的扫描分辨率。
极大地降低噪声水平,接触模式下可获得原子级图像,在轻敲模式下低于 30pm。
热漂移速率低于 200pm/分钟,真正获得无曲图像。 -
无以伦比的效率
XYZ 闭环扫描器的新设计,使仪器在较高扫描速度工作时,也不降低图像质量,具有更大的数据采集效率。
将十年的研发经验融入到参数预设置中,在新的NanoScope® 软件带有默认的实验模式。
高分辨率相机和 X-Y 定位可快速、高效地找到样品测量位置。 -
优秀的多功能性
针尖和样品之间的开放式空间,不仅可以进行各种标准实验,也可以自行设计实验方案,满足不同研究工作的需求。
硬件和软件技术方面的不断创新,新开发 HarmoniX 模式,可以测量纳米尺度上材料性质。
用户实用程序脚本提供半自动测量和数据分析。
产品应用
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材料成像:
Icon 支持 Bruker 专利技术 PeakForce QNM™成像模式,研究者在获得高分辨率形貌图像的同时,还可以对样品进行纳米定量力学性能测试,同时获得高分辨成像。此技术适用范围很广 (模量从 1MPa 到50GPa,粘附力从 10pN 到 10μN),可以对不同类型的样品进行表征。 -
电学表征:
专利模式,可以以更高的灵敏度和更大的动态范围上实现电学表征。把这些研究与其他技术结合起来,比如 Dark Lift,可在扫描电容显微镜,扫描扩散电阻显微镜,扭转共振隧道电流薄膜应力测试仪中获得真正的无假象数据。 -
纳米操纵:
可实现在纳米和分子级别的纳米操纵和刻蚀。Icon 的 XYZ 闭环扫描器可实现无压电蠕变效应和超低噪音的精密探针定位,适用于任何纳米操纵系统。 -
加热和冷却:
使用 AFM 不同模式扫描的同时,可实现–35°C 到 250°C 的温度控制和热分析。使用热探针可以在小于 100nm的样品局部加热,达到 400°C 。
技术参数
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