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Bruker布鲁克ContourX-200 三维光学轮廓仪
ContourX-200光学轮廓仪完美融合了高级表征、可定制选项和易用性,可提供一流的快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。
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Bruker布鲁克ContourX-1000 三维光学轮廓仪
落地式ContourX-1000白光干涉(WLI)系统集成了Bruker在硬件和软件上的新技术,可用于全自动三维表面纹理和粗糙度测量。
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ContourX-200光学轮廓仪完美融合了高级表征、可定制选项和易用性,可提供一流的快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。
落地式ContourX-1000白光干涉(WLI)系统集成了Bruker在硬件和软件上的新技术,可用于全自动三维表面纹理和粗糙度测量。