服务热线:白光干涉轮廓仪
Bruker布鲁克ContourX-200 三维光学轮廓仪
ContourX-200光学轮廓仪完美融合了高级表征、可定制选项和易用性，可提供一流的快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。
Bruker布鲁克ContourX-1000 三维光学轮廓仪
落地式ContourX-1000白光干涉（WLI）系统集成了Bruker在硬件和软件上的新技术，可用于全自动三维表面纹理和粗糙度测量。
ContourX-200光学轮廓仪完美融合了高级表征、可定制选项和易用性，可提供一流的快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。
落地式ContourX-1000白光干涉（WLI）系统集成了Bruker在硬件和软件上的新技术，可用于全自动三维表面纹理和粗糙度测量。