ContourX-200光学轮廓仪完美融合了高级表征、可定制选项和易用性，可提供一流的快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。该设备作为可用于计量的小尺寸系统，配置了大视场的5百万像素摄像头和新型电动XY载物台，可提供高性能的的2D / 3D高分辨率测量功能。

ContourX-200还配有业界最先进的操作和分析软件Vision64®。最新的VisionXpress™提供了更易于使用的界面和简洁的功能，可访问多种预编程滤镜和分析工具，用于精密加工的表面，薄膜，半导体，眼科，医疗设备，MEMS和摩擦学等领域的测量分析。

ContourX-200具有无与伦比的Z轴分辨率和准确性，提供了布鲁克专有的白光干涉仪（WLI）的所有业界公认的优点，却没有传统共聚焦显微镜等产品的局限。

高性能表面计量

1. 与放大倍率无关的Z轴分辨率
2. 大尺寸的标准视场
3. 稳定集成防震设计

卓越的测量与分析功能

1. 易于使用的界面，可快速准确地获得结果
2. 自动化功能用于日常测量和分析
3. 广泛的滤镜和分析工具选项，用于粗糙度和关键尺寸测量分析
4. 满足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等标准在内的定制化分析报告

无与伦比的一流计量设备

基于超过四十年的专有WLI创新，ContourX-200光学轮廓仪展现出定量计量所需的低噪声、高速、高精度的准确结果。通过使用多个镜头和集成的特征识别功能，设备可以在各种视野内以亚纳米垂直分辨率跟踪特征，从而提供不受放大倍数影响的结果，可用于各种不同行业中的质量控制和过程监控应用。

ContourX-200对于反射率从0.05％到100％的各种表面都非常易于测量。

最全面的分析能力

利用强大的VisionXpress和Vision64用户界面，ContourX-200提供了上千种定制分析参数，以提高实验室和工厂车间的生产率。系统新摄像头提供了更大视野，新型电动XY平台提供了更灵活定位能力，为各种样品和零件提供了更大的适用性和更高的测试通量。硬件和软件组合提供了对高可重复性和 高通量计量学测量功能的便捷访问，超过了同类计量设备的能力。