布鲁克公司全新的D8 DISCOVER X射线衍射仪，材料研究领域的先进X射线衍射系统。采用创造性的达芬奇设计，配备了集成化的DIFFRAC.SUITETM软件，附件自动识别、即插即用以及完全集成化的二维XRD2功能。这些特征使得用户可以非常方便的在材料研究领域的不同应用之间切换，包括：反射率测量(XRR)、高分辨测量(HRXRD)、掠入射(GID)、面内掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及残余应力和织构分析。

产品优势

• 真正的即插即用功能，具有全自动组件识别和配置功能。
• 配置无对准切换-无论您的样本，无论您的应用。采用DAVINCI设计的D8 DISCOVER劳永逸地解决了复杂的配置和调整问题。交换所有组件和几何形状变得很简单。
• 绝对开放式设计，为未来调整提供最大灵活性。

应用领域

广泛应用于微电子学、光子学、微机电系统(MEMS)、能源生产和储存、数据存储、纳米技术、软物质、薄膜和涂层、材料研究和开发领域。

应用图片示例

在DIFFRAC.LEPTOS中,使用sin2psi法,用Cr辐射进行测量,对钢构件的残余应力进行分析。

使用DIFFRAC.EVA,测定小区域结构特性。通过积分2D图像,进行1D扫描,来进行定性相分析和微观结构分析。

在DIFFRAC.EVA中,进行半定量分析,以显示孔板上不同相的浓度。

在DIFFRAC.WIZARD中配置温度曲线并将其与测量同步，然后可以在DIFFRAC.EVA中显示结果。