Dimension FastScan原子力显微镜(AFM)在不损失Dimension®Icon®分辨率的仪器性能前提下，解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。

AFM使用效率和检测性能，Bruker开发了这套快速扫描系统，不降低分辨率，不增加操作复杂性，不影响仪器使用成本的前提下，帮助用户实现了利用Dimension快速扫描系统，即快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时，设置实验参数为扫描速度>125Hz，还是在大气下或者溶液中1秒获得一张AFM图像，能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一技术重新定义了AFM仪器的操作和功能。。聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，MEMS制造，细胞表面形态观察，生物大分子的结构及性质，数据存储，金属/合金/金属蒸镀的性质研究，食品、化学品、护肤品的加工/包装，液晶材料性能表征，分子器件，生物传感器，分子自组装结构，光盘存储，陶瓷工艺，薄膜性能表征，地质、能源、环境等领域的监测等各类科研和生产工作。

产品优势

1. 拒绝妥协------高速性能
   随时随地在任何尺寸的样品上进行最高分辨率成像。
2. 实时------纳米尺度动力学
   终极快速和稳定的针尖扫描模式直接展现了气相和液相中的动态行为。
3. 自动化------设置、数据采集和分析
   惊人的操作简易性，杰出的生产力，让用户能专注于自己的研究工作。

产品特点

• 仪器检测性能
  • 在空气或液体中成像速度是原来速度的100倍，自动激光调节和检测器调节，智能进针，大大缩短了实验时间。
  • 自动测量软件和高速扫描系统结合，提高了实验数据的可信度和可重复性。
• 测量分辨率
  • Fastscan的力控制模式图像分辨率的同时，延长了探针的使用寿命。
  • 扫描速度20Hz时仍能获得高质量的TappingModeTM图像，扫描速度6Hz仍能获得高质量的ScanAsyst图像。
  • 低噪音，温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。
• 测试功能，适用于各类AFM样品
  • 闭环控制的Icon和FastScan的扫描器降低了Z方向噪音，使它们Z方向的噪音水平分别低于30pm和40pm，具有低的热漂移率，可得到分辨的真实图像。
  • FastScan可以对不同样品进行测量，扫描过程中从埃级到0.1μm的无失真扫描。

不论您选择Icon扫描器获得低噪音和分辨率的图像，还是选择DimensionFastScanAFM的扫描器进行高速扫描检测，DimensionFastScanAFM系统都会帮助您将仪器的功能开发到，实现其它单一模式的仪器所达不到的效果。